高精度扫描隧道显微镜对纳米碳酸钙特性的研究

• 作者: 刘济春 彭光含 李旭 杨学恒 辛洪政
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: 扫描隧道显微镜 扫描隧道谱 隧道电流 禁带宽度
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 实验技术与方法
• 页码范围: 129-130,133
• 页数: 3页
• 分类号: O434.1|TN16
• 字数: 1208字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4012.2006.03.007

摘要

用高精度IPC-205B型扫描隧道显微镜测得纳米碳酸钙的扫描隧道谱.该隧道谱表明,纳米碳酸钙具有半导体性质,与普通碳酸钙相比,其导电性能有了明显改善.由纳米碳酸钙隧道谱得出纳米碳酸钙的禁带宽度为0.4eV,比半导体硅的禁带宽度1.1eV的低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨学恒	重庆大学数理学院	39	294	9.0	15.0
2	彭光含	湖南文理学院物电系	49	241	8.0	12.0
3	李旭	重庆大学数理学院	37	320	10.0	16.0
4	刘济春	重庆大学数理学院	5	25	3.0	5.0
5	辛洪政	重庆大学数理学院	7	38	5.0	6.0