浅析161例高热惊厥患者的脑电图

• 作者: 周炎
• 来源期刊: 神经病学与神经康复学杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 高热惊厥 脑电图
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 临床研究
• 页码范围: 222-226
• 页数: 5页
• 分类号: R74
• 字数: 4208字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7061.2006.04.011

摘要

目的 探讨高热惊厥对脑电图的影响.方法 对161列高热惊厥患者的脑电图和相关资料进行回顾分析.将161例高热惊厥患者按不同年龄分为三组:A组(2～4岁),B组(5～7岁),C组(8～9岁),并将三组的脑电图结果进行比较.结果 退热一周后:①脑电图总异常率为47.2%(其中轻度异常21.1%,样改变26.1%).②A组(2～4岁)的脑电图异常率52.1%和C组(8～9岁)的脑电图异常率91.6%,呈明显增高.退热一个月后:①有18例轻度异常的脑电图恢复到正常水平,其余的均无明显变化.②脑电图的异常率与不同的热惊年龄、不同的热惊阈值、首次热惊发作和多次热惊发作有关.③A组(2～4岁)的热惊低阈值率和热惊复发率分别为66.3%和86.6%,是三组中最高的.结论 高热惊厥的发作可导致脑损伤,脑电图检查对高热惊厥的脑损伤和预后的判断是一个很有用的监测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周炎	上海交通大学医学院附属仁济医院神经科脑电图室	3	5	1.0	2.0