一种测量微波高Q谐振腔品质因数的新方法

• 作者: 冯萍丽 张磊 韦高
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 品质因数 谐振腔 微波测量 半功率带宽
• 年，卷（期）: 2006,（12）
• 所属期刊栏目: 数据采集与处理
• 页码范围: 20-21,25
• 页数: 3页
• 分类号: TM930
• 字数: 1279字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2006.12.007

摘要

传统的谐振腔品质因数扫频测量方法在实际测量时存在一定的限制.为此,针对微波高Q谐振腔,给出了一种测量其品质因数的新方法,该方法可以根据实测的谐振曲线灵活选取测量点,有效解决了传统方法中由于谐振腔受外电路影响导致测量误差较大的问题.采用该方法对一个微波高Q谐振腔进行测量,得到了较好的结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张磊	西北工业大学电子信息学院	47	508	10.0	21.0
2	韦高	西北工业大学电子信息学院	91	723	11.0	24.0
3	冯萍丽	西北工业大学电子信息学院	2	22	2.0	2.0