整机产品加速贮存寿命试验研究思路探讨

• 作者: 姜同敏 李宪姗 林震 程永生 胡斌
• 来源期刊: 航空标准化与质量
• 学科: 地球科学
• 关键词: 加速 薄弱环节 性能退化 可靠性增长
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 环境与可靠性
• 页码范围: 38-41
• 页数: 4页
• 分类号: TB114.3|N945.17
• 字数: 4594字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6660.2006.04.012

摘要

介绍了整机产品加速贮存寿命试验技术的三种方法;转化法、性能参数退化法、利用可靠性增长理论并逐一分析研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜同敏		75	866	16.0	26.0
2	程永生	中国工程物理研究院电子工程研究所	39	274	8.0	15.0
3	林震	中国工程物理研究院电子工程研究所	10	125	5.0	10.0
4	胡斌	中国工程物理研究院电子工程研究所	10	138	4.0	10.0
5	李宪姗		1	24	1.0	1.0