基于TDM总线的多处理器系统检测技术的研究

• 作者: 冯化纲 张涌 汤心溢
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 多处理器系统 检测技术 DSP TDM USB
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 系统与设计
• 页码范围: 343-347
• 页数: 5页
• 分类号: TN216|TN707
• 字数: 1953字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2006.06.009

摘要

多处理器系统是红外成像探测系统的重要组成部分,随着红外成像探测技术在航天、军事等领域的广泛应用,对系统的可靠性和可维修性提出了更高的要求.为了方便多处理器系统的检测和维修,文章提出了一种基于TDM总线的多处理器系统的检测技术,可以完成电路故障的快速准确定位、系统软件在线修改和信号处理中间结果记录,将系统的检测由系统级上升为芯片级.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张涌	中国科学院上海技术物理研究所	33	191	8.0	12.0
2	汤心溢	中国科学院上海技术物理研究所	77	751	14.0	22.0
3	冯化纲	中国科学院上海技术物理研究所	3	12	2.0	3.0