智能卡/IC模块使用高分子倒装芯片工艺(PFC)封装装配的可靠性

• 作者: Frank Kulesza Mihalis Michael 项前
• 来源期刊: 中国集成电路
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 封装
• 页码范围: 60-64
• 页数: 5页
• 分类号: TB48
• 字数: 4720字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-5289.2006.01.015

摘要

高分子倒装芯片(PFC)工艺作为一种新兴的、更经济的以及更为先进的芯片装配的方法及某些应用已发表.另外,应用于智能卡和PCMCIA卡的倒装芯片安装技术也已被公开.本文的焦点话题是使用EPOTEK的高分子倒装芯片工艺技术装配的智能卡/IC微电子模块耐受高热和环境磨砺的可靠性..所选取的测试样本均为4K系列EPROM器件,都是按照ISO 7816-1,2或ISO 7810的要求和标准进行装配并测试的.可靠性测试项目包括:-35C/24小时的低温存储,125C/48 小时的高温存储,-30C到70C冷热循环10次,85C/85%RH恒温/恒湿存储96小时;测试项目还包括:96 小时的盐雾环境存储和ESD敏感度测试(MS3015-4KV).最后进行的测试是135C烘烤1000小时后各项性能数据的保持力.在个人电脑界面上植入一种智能卡读取器,用于运行一个诊断软件程序.一种可重复利用的卡片固定器被用于在诊断测试过程中临时固定那些装配好的内存芯片模块.这种软件程序被设计为分别在芯片装置上的每一存储区域写上一组特别的原始数据,然后再将这些数据读取回来,与原始数据相比较,确定是否有错误,最后把结果显示出来.高分子倒装芯片装配的"成功"或"失败"的判断方法就这样得以建立.PFC工艺装配得到的智能卡模块可以达到以上耐受环境和电气可靠性的全部要求.在智能卡的制造历史上,高分子倒装芯片工艺是被第一次成功地使用,使用这种技术在芯片的连接垫片和基板连接点之间创建的导电连接能经受所有的可靠性测试.PFC技术虽为新生事物,但是已经被证明它在智能卡模块的装配上是低成本和高可靠性兼备的疏遇难求的通途.

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