基于CFBR-Ⅱ堆不同n／γ值生成技术

• 作者: 李俊杰 邱东
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 物理学
• 关键词: CFBR-Ⅱ堆 生成技术 γ值 中子辐照 裂变材料 损伤效应 影响规律 辐射场
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 页码范围: 65-66
• 页数: 2页
• 分类号: O431

摘要

由于CFBR-Ⅱ堆裂变材料裂变放出中子的同时，总伴随有γ射线产生，当样品进行中子辐照的同时，不可避免地受到γ照射，而γ照射同样会对样品具有损伤效应。用户希望对中子辐照时γ照射的影响规律开展研究，研究工作需要提供不同n／γ值辐射场。为此，将在CFBR-Ⅱ堆上开展不同n／γ值辐射场生成技术研究。