还原气氛烧成Y5V型瓷粉的结构与介电性能

• 作者: 周成 张跃 王森 纪箴 顾友松 黄运华
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 工学
• 关键词: Y5V 钛酸钡 MLCC 介电常数
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 470-473
• 页数: 4页
• 分类号: TN304
• 字数: 763字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9731.2006.03.040

摘要

运用SEM、TEM、XRD等手段研究了掺杂组分对钛酸钡基Y5V陶瓷的结构和性能影响.结果表明:由于掺杂组分的存在,烧结情况得到了明显的改进.掺杂钛酸钡陶瓷的烧结包括固-固烧结和液-固烧结.Zr和稀土元素能够扩散进入钛酸钡晶格并促进固-固烧结,SiO2主要聚集在晶界并促进液-固烧结烧结.Nd5+聚集在晶界并促进针状颗粒生成,XRD的结果表明样品中有新相形成.由于掺杂的引入,材料的居里温度向低温方向移动,材料的介温曲线较纯钛酸钡材料的介温曲线更趋平坦.研究的结果还表明,由于在还原气氛中烧结,材料的介电损耗上升.