高效验证平台在TD-SCDMA终端芯片功能验证中的应用

• 作者: 刘树军 申敏 陈辉
• 来源期刊: 重庆邮电学院学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 片上系统 待验证模块 验证方法学(RVM) 覆盖率驱动 RVM验证平台 引用模型
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 通信与电子
• 页码范围: 299-302,316
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 3135字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-825X.2006.03.004

摘要

介绍了基于事务级验证的验证方法学(RVM)和覆盖率驱动技术,以及如何将RVM方法学和覆盖率驱动技术结合而搭建高效的验证平台,并详细分析了使用此验证平台对TD-SCDMA终端芯片进行完备和高效的RTL级功能验证.此验证平台比传统验证平台在效率上大大提高,有效地缩短了SoC芯片模块级和系统级的验证时间,缩短了3 SoC芯片的开发周期.