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摘要:
为分析电流型全桥软开关逆变器中出现的频率跃变现象,针对软开关电路的高维、自治特性,提出了一种基于半解析半数值方法的广义离散映射模型,并基于Floquet理论给出依据该离散映射模型的系统局部稳定性判定方法.经分析表明该频率跃变现象是系统闭轨失去稳定性后,状态流转向邻域内其他闭轨所产生的频率跳跃现象.此外,基于电路阻抗的分析结果表明系统的电路阻抗随着负载变化出现多零相位角频率,是引起该跃变现象的主要因素.最后,通过搭建实验平台进行的观测结果验证了该频率跃变现象.
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文献信息
篇名 电流型全桥软开关变换器的频率跃变现象分析
来源期刊 电工技术学报 学科 工学
关键词 软开关电路 离散映射建模 Floquet特征乘数 频率跃变现象
年,卷(期) 2006,(6) 所属期刊栏目 理论研究
研究方向 页码范围 78-82,95
页数 6页 分类号 TN62
字数 4110字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-6753.2006.06.015
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 黄席樾 重庆大学自动化学院 232 4039 34.0 50.0
2 孙跃 重庆大学自动化学院 152 3688 37.0 55.0
3 戴欣 重庆大学自动化学院 67 2174 26.0 46.0
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研究主题发展历程
节点文献
软开关电路
离散映射建模
Floquet特征乘数
频率跃变现象
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电工技术学报
半月刊
1000-6753
11-2188/TM
大16开
北京市西城区莲花池东路102号天莲大厦10层
6-117
1986
chi
出版文献量(篇)
8330
总下载数(次)
38
总被引数(次)
195555
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