开关电源芯片中过温保护技术的研究与实现

• 作者: 邵轲 邹雪城 郑朝霞 陈松涛
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 过温保护技术 开关电源 PTAT电流 迟滞功能
• 年，卷（期）: 2006,（7）
• 页码范围: 192-194
• 页数: 3页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2006.07.056

摘要

在分析温度对开关电源芯片的可靠性、稳定性有严重影响的基础上,利用与绝对温度成正比的PTAT电流检测温度变化的原理,设计了一种新颖的过温保护电路.该电路具有迟滞功能,并且关断和开启阈值可调,同时输入电压变化对温度门限的影响很小.仿真波形显示该电路工作性能优异.最后该电路应用在DC-DC芯片中,采用1.6μmBiCMOS工艺,完全满足芯片设计需要,具有很大的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹雪城	华中科技大学电子科学与技术系	310	2261	21.0	31.0
2	郑朝霞	华中科技大学电子科学与技术系	33	235	9.0	13.0
3	邵轲	华中科技大学电子科学与技术系	3	62	2.0	3.0
4	陈松涛	华中科技大学电子科学与技术系	5	42	3.0	5.0