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纳米薄膜的光学参数及厚度提取方法研究
纳米薄膜的光学参数及厚度提取方法研究
作者:
张亚非
徐东
杨莺歌
金文豪
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
薄膜光学
光学常数
非线性约束优化算法
摘要:
采用磁控溅射法在玻璃基底上分别制备了不同厚度的单层TiO2、Au纳米薄膜和双层TiO2/Au纳米薄膜,并测量了这些薄膜的透射光谱.通过设计计算机程序拟合透射光谱;获取了薄膜的折射率和消光系数随波长的变化曲线以及薄膜的厚度.这种拟合方法是以非线性约束优化理论为基础的,具有透射光谱易测量、计算精度高等特点.
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文献信息
篇名
纳米薄膜的光学参数及厚度提取方法研究
来源期刊
光电子技术
学科
工学
关键词
薄膜光学
光学常数
非线性约束优化算法
年,卷(期)
2006,(1)
所属期刊栏目
研究与试制
研究方向
页码范围
26-29
页数
4页
分类号
TN65
字数
3219字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1005-488X.2006.01.007
五维指标
传播情况
被引次数趋势
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光学常数
非线性约束优化算法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
光电子技术
主办单位:
南京电子器件研究所
出版周期:
季刊
ISSN:
1005-488X
CN:
32-1347/TN
开本:
16开
出版地:
南京中山东路524号(南京1601信箱43分箱)
邮发代号:
创刊时间:
1981
语种:
chi
出版文献量(篇)
1338
总下载数(次)
4
总被引数(次)
7328
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