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摘要:
采用磁控溅射法在玻璃基底上分别制备了不同厚度的单层TiO2、Au纳米薄膜和双层TiO2/Au纳米薄膜,并测量了这些薄膜的透射光谱.通过设计计算机程序拟合透射光谱;获取了薄膜的折射率和消光系数随波长的变化曲线以及薄膜的厚度.这种拟合方法是以非线性约束优化理论为基础的,具有透射光谱易测量、计算精度高等特点.
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文献信息
篇名 纳米薄膜的光学参数及厚度提取方法研究
来源期刊 光电子技术 学科 工学
关键词 薄膜光学 光学常数 非线性约束优化算法
年,卷(期) 2006,(1) 所属期刊栏目 研究与试制
研究方向 页码范围 26-29
页数 4页 分类号 TN65
字数 3219字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-488X.2006.01.007
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研究主题发展历程
节点文献
薄膜光学
光学常数
非线性约束优化算法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光电子技术
季刊
1005-488X
32-1347/TN
16开
南京中山东路524号(南京1601信箱43分箱)
1981
chi
出版文献量(篇)
1338
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4
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7328
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