通过纯软件的方法测试数字处理器的故障敏感性

• 作者: 彭俊杰 李瑞 洪炳 袁成军 魏振华 黄庆成
• 来源期刊: 宇航学报
• 学科: 工学
• 关键词: 故障注入 可靠性 故障敏感性 单粒子翻转
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 108-112
• 页数: 5页
• 分类号: TP311
• 字数: 922字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1328.2006.01.023

摘要

对于工作在高辐射太空中的飞行器而言,它不可避免会受到单粒子效应的影响.因此,如何预测飞行器中单粒子效应敏感区域以便加强保护措施是一件很重要的工作.但事实上,要预测单粒子效应对飞行器的影响并不容易.本文给出了一种通过纯软件来评测飞行器系统对单粒子效应的敏感程度的方法--软件故障注入法--这也是评测微电子电路可靠性极具前景的方法.该方法采用高效的汇编语言在汇编级实现,对目标系统不会造成损伤,并且使用方便.试验的结果表明,目标处理器对于单粒子翻转的敏感性大约为1.38%到2.35%,且寄存器的敏感性要高于内存区.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄庆成	哈尔滨工业大学计算机科学与技术学院	41	616	16.0	23.0
2	李瑞		7	48	3.0	6.0
3	魏振华	哈尔滨工业大学计算机科学与技术学院	12	121	5.0	11.0
4	彭俊杰	哈尔滨工业大学计算机科学与技术学院	7	91	4.0	7.0
5	洪炳	哈尔滨工业大学计算机科学与技术学院	2	13	1.0	2.0
6	袁成军		3	28	2.0	3.0