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摘要:
采用金属铝诱导晶化非晶硅薄膜的方法制备多晶硅薄膜.研究了不同的退火温度对a-Si薄膜晶化的影响,采用XRD,Raman,SEM等测试手段分析了实验结果.实验结果发现非晶硅薄膜在400℃下退火20 min薄膜仍为非晶结构(a-Si),在450℃下退火20 min后非晶硅开始晶化且随着温度的升高,且晶化程度加强.
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文献信息
篇名 铝诱导非晶硅薄膜快速低温晶化研究
来源期刊 真空 学科 工学
关键词 铝诱导晶化法(AIC) 非晶硅薄膜 多晶硅薄膜
年,卷(期) 2006,(4) 所属期刊栏目 薄膜
研究方向 页码范围 16-18
页数 3页 分类号 O484|TN304
字数 1834字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-0322.2006.04.005
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研究主题发展历程
节点文献
铝诱导晶化法(AIC)
非晶硅薄膜
多晶硅薄膜
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
真空
双月刊
1002-0322
21-1174/TB
大16开
辽宁省沈阳市万柳塘路2号
8-30
1964
chi
出版文献量(篇)
2692
总下载数(次)
3
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