利用GPIB和VC构建光器件自动测试系统

• 作者: 刘德明 姜炜 柯昌剑
• 来源期刊: 光学与光电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 通用总线接口 光器件 半导体光放大器 自动测试
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 光电检测
• 页码范围: 43-45
• 页数: 3页
• 分类号: TN247
• 字数: 1922字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-3392.2006.03.012

摘要

通过GPIB接口,使用VC进行编程,设计了快速测量光通半导体放大器(SOA)各项性能参数的自动测试系统.该系统使得一台计算机同时控制多台光器件测试仪器,并产生详尽的数据报表.该系统提高了工作效率,降低了生产成本,并具有良好的可扩展性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘德明	华中科技大学光电子工程系	236	1645	17.0	27.0
2	姜炜	华中科技大学光电子工程系	3	18	2.0	3.0
3	柯昌剑	华中科技大学光电子工程系	20	58	3.0	5.0