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摘要:
随着电子封装无铅化的趋势,选择无铅锡基镀层已成为必然.但是,纯锡及锡基合金镀层具有自发生长锡晶须的倾向,因此研究并阐明锡晶须的生长机理,并采取有效的预防措施,成为目前人们关注的焦点.回顾了锡晶须研究的历史和现状,综述了关于锡晶须的形貌特征、影响锡晶须生长的各种因素及目前对锡晶须生长机理的认识等问题,介绍并分析了几种工业界预防锡晶须生长的主要措施,包括合金化、去应力退火、电镀隔离层、热风整平或热熔.讨论并提出了一些需要研究的课题.
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文献信息
篇名 锡镀层表面晶须问题的研究现状与进展
来源期刊 表面技术 学科 工学
关键词 锡晶须 形貌特征 生长机理 电镀
年,卷(期) 2006,(4) 所属期刊栏目 综述·专论
研究方向 页码范围 1-4,12
页数 5页 分类号 TQ153.13
字数 6155字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-3660.2006.04.001
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研究起点
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期刊影响力
表面技术
月刊
1001-3660
50-1083/TG
16开
重庆市2331信箱(重庆市九龙破区石桥铺渝州路33号)
78-31
1972
chi
出版文献量(篇)
5547
总下载数(次)
30
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34163
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