液晶测试信号源的设计与实现

• 作者: 于涛 侯文卓 孙铁铮 李拥军
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: TFT模块 驱动信号 点缺陷 线缺陷 CPLD 模拟开关
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 73-76
• 页数: 4页
• 分类号: TN27|TP216.1
• 字数: 2603字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2006.01.016

摘要

根据目前TFT模块的生产现状和需求,依据TFT模块的驱动和测试原理,以及TFT模块的线缺陷和点缺陷的产生原因,设计并实现了一种由MCU、CPLD和模拟多路开关组成的简易测试信号源,该信号源可提供Gate Odd,Gate Even,Data,Vgg和Vcom 5路信号,此5路信号无论在频率、占空比、幅值还是延时上都满足对4.6 cm(1.8 in),128×160像素液晶模块的线缺陷和点缺陷的测试要求,且测试效果良好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于涛		7	69	5.0	7.0
2	侯文卓	吉林大学机械学院	2	11	2.0	2.0
3	孙铁铮		2	36	2.0	2.0