基于数字散斑自相关技术的微位移测量

• 作者: 汤正新 甄志强 闫海涛
• 来源期刊: 河南科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 数字散斑 自相关函数 位移 测量
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 数理科学
• 页码范围: 95-97
• 页数: 3页
• 分类号: TN247
• 字数: 1523字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-6871.2006.04.028

摘要

通过散斑照相实验,得到粗糙表面在激光照射下的散斑场,移动粗糙表面,记录位移前后的散斑图像,利用数字散斑相关方法分析散斑图像,即可确定粗糙表面的位移.理论分析和实验结果表明,数字散斑相关技术可以很好地实现测量带有粗糙表面物体的微小位移,精度可达微米级.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汤正新	河南科技大学理学院	50	129	6.0	8.0
2	闫海涛	河南科技大学理学院	16	38	4.0	5.0
3	甄志强	河南科技大学理学院	25	36	3.0	5.0