聚合物电介质中空间电荷陷阱深度的模拟计算

• 作者: 孙才新 廖瑞金 李剑 杨丽君 陆云才
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 聚合物 分子模拟 空间电荷 陷阱 密度泛函理论
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 分析与测试
• 页码范围: 51-54,58
• 页数: 5页
• 分类号: TM201.3|TM215.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2006.06.015

摘要

利用分子动力学(MD)与密度泛函理论(DFT),建立聚合物电介质中空间电荷陷阱深度的计算模型,得出了聚乙烯分子的化学结构缺陷和过氧化二异丙苯(DCP)、α-甲基苯乙烯等杂质分子的空间电荷陷阱深度,并结合聚乙烯空间电荷陷阱能级的变化,分析了聚合物分子缺陷处空间电荷陷阱特性.模拟结果表明聚合物中苯环、羰基、醛基和共轭双键等化学键及键和链的作用是空间电荷陷阱存在的重要原因.其结果同现有的文献符合得比较好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙才新	重庆大学高电压与电工新技术教育部重点实验室	379	13536	63.0	93.0
2	李剑	重庆大学高电压与电工新技术教育部重点实验室	118	3009	33.0	48.0
3	杨丽君	重庆大学高电压与电工新技术教育部重点实验室	117	3039	34.0	48.0
4	廖瑞金	重庆大学高电压与电工新技术教育部重点实验室	223	6135	43.0	64.0
5	陆云才	重庆大学高电压与电工新技术教育部重点实验室	5	89	5.0	5.0