基于FPGA的智能误码测试方案

• 作者: 吴向阳 胡修林
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: m序列 现场可编程门阵列 位同步 序列同步 锁相
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 所属期刊栏目: 理论与实践
• 页码范围: 83-85,88
• 页数: 4页
• 分类号: TP206+.1
• 字数: 2719字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2006.08.026

摘要

分析特定系统通信传输的抗干扰能力,先要提取该系统在正常工作情况下的误码情况,再在此基础上对该系统的抗干扰能力进行全面分析.提出了一种基于FPGA的智能误码测试方案.先从基本组成入手,介绍误码分析仪各功能模块的作用和误码分析仪的工作过程,之后根据数字锁相环的基本原理,结合FPGA的结构特点设计了一种自适应的智能锁相的位同步法和序列同步法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡修林	华中科技大学电信系	171	1738	20.0	32.0
2	吴向阳	华中科技大学电信系	1	5	1.0	1.0