直接钼蓝光度法测定高纯二硫化钼中微量硅

• 作者: 赵昱
• 来源期刊: 中国钼业
• 学科: 化学
• 关键词: 硅 硅钼酸 硅钼蓝光度法 二硫化钼
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 分析与检测
• 页码范围: 48-50
• 页数: 3页
• 分类号: O657.59
• 字数: 2589字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2602.2006.04.012

摘要

对不分离样品主体钼条件下,直接用钼蓝光度法测定硅进行了深入研究;在标准系列中加入钼基体,补偿了钼的影响,加入乙醇消除了溶样产生的钼蓝的干扰,所拟的测定高纯二硫化钼中微量硅的方法,准确度、精密度均好;硅含量为0.034%,RSD为8.8%.此方法已应用到钼化学品生产的实际分析,效果良好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵昱		5	20	3.0	4.0