微纳级双极晶体管的热耗散研究

• 作者: 侯志刚 李惠军 许新新
• 来源期刊: 微纳电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 超深亚微米 微纳级 双极性器件 热现象 集成电路
• 年，卷（期）: 2006,（10）
• 所属期刊栏目: 纳米器件与技术
• 页码范围: 461-463,475
• 页数: 4页
• 分类号: TN431|TN321
• 字数: 2203字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4776.2006.10.002

摘要

对于双极性晶体管,由于自身存在的自加热现象,严重地影响着器件的特性.基于热电流方程、泊松方程及电流密度方程,在二维器件仿真环境下,进行了微纳级小尺寸npn双极性晶体管热现象的器件物理特性分析.重点研究了器件的集电极电流IC与晶格温度T的因变关系.研究结果显示,随着IC的增加,器件的晶格温度逐渐升高,VCE保持在3.0 V、VBE达到最大值0.735V时,随器件晶格温度的升高VBE将减小.最后,笔者给出了描述晶体管温变关系的三维曲线.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李惠军	山东大学孟堯微电子研发中心	51	103	5.0	7.0
2	许新新	山东大学孟堯微电子研发中心	11	20	3.0	4.0
3	侯志刚	山东大学孟堯微电子研发中心	10	55	5.0	7.0