乐观同步时间分析及运行支撑平台接口性能参数的测试

• 作者: 严海蓉 孙国基 张亚崇 钟联炯
• 来源期刊: 兵工学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计算机应用 高层体系结构(HLA) 分布式仿真 乐观同步 时间管理 RTI接口性能
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 页码范围: 745-749
• 页数: 5页
• 分类号: TP301.6
• 字数: 4319字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1093.2006.04.037

摘要

剖析了乐观同步算法和高层体系结构(HLA)实现机制,分析了对仿真时间影响的主要因素--运行支撑平台(RTI)接口性能参数,得到了它对总仿真时间的影响效力.在分析的过程中发现了事件处理方式、存储和恢复算法的选择依然是控制仿真时间长短的关键点.总之,在乐观算法实现时,采用RTI会加长仿真时间,其中接口性能是造成仿真时间增长的主要因素.最后,通过仿真,测出了KD-RTI接口性能参数的统计均值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钟联炯	西安工业大学计算机系	100	551	11.0	18.0
2	孙国基	西安交通大学机械制造系统工程国家重点实验室	105	1643	20.0	37.0
3	严海蓉	西安交通大学机械制造系统工程国家重点实验室	13	119	6.0	10.0
7	张亚崇	西安交通大学机械制造系统工程国家重点实验室	17	155	7.0	12.0