大气颗粒物采样膜本底值的研究

• 作者: 朱光华
• 来源期刊: 过程工程学报
• 学科: 地球科学
• 关键词: PIXE分析 大气颗粒物 采样膜
• 年，卷（期）: 2006,（z2）
• 所属期刊栏目: 气溶胶
• 页码范围: 25-27
• 页数: 3页
• 分类号: X830.3
• 字数: 1569字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1009-606X.2006.z2.006

摘要

用PIXE分析技术对6种在大气颗粒物采样中常用的膜(特弗纶膜,瓦特门膜,核孔膜,迈拉膜,聚氯乙烯膜和石英膜)的本底杂质元素的含量进行了测定.结果表明一些膜中含有PIXE分析灵敏元素(即原子序数 Z≥12)的量极低,它们对大气颗粒物分析结果的影响可以忽略,一些膜中的含量不能忽略,一些膜不适合用于PIXE分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱光华		1	4	1.0	1.0