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摘要:
利用分子束外延技术(MBE)生长了一个分布很不均匀的InGaAs量子点样品.样品不同位置InGaAs的沉积量不同导致点的大小、密度分布不均匀.这种分布恰恰对应着量子点形成的不同时期,因此仅通过一个样品就可以把量子点的生长演变全过程展示出来.AFM和PL测试表明:随着InGaAs沉积量的增加,量子点的密度显著增加,量子点的尺寸分布渐趋均匀并倾向于一平衡值.
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文献信息
篇名 自组织量子点的形成过程
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 量子点 AFM PL谱
年,卷(期) 2006,(z1) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 80-83
页数 4页 分类号 TN304.2+3
字数 3246字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2006.z1.019
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研究主题发展历程
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PL谱
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期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
出版文献量(篇)
6983
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