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高速串行数据接收器专用集成电路的可测性设计
高速串行数据接收器专用集成电路的可测性设计
作者:
张劼
来新泉
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
串行解串传输系统
解串接收器
可测性设计
内建自测试
测试点
摘要:
本文为了解决高速串行数据接收器专用集成电路的测试难题,提出了针对该高速工作的集成电路的测试方案,并设计了可行的测试电路.通过添加测试引脚、设计专用测试模式,内建自测试等方法有效的解决了该芯片电路的功能测试和电气性能测试.
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篇名
高速串行数据接收器专用集成电路的可测性设计
来源期刊
电子质量
学科
工学
关键词
串行解串传输系统
解串接收器
可测性设计
内建自测试
测试点
年,卷(期)
2006,(1)
所属期刊栏目
理论与研究
研究方向
页码范围
4-7
页数
4页
分类号
TN402
字数
2764字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1003-0107.2006.01.003
五维指标
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解串接收器
可测性设计
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测试点
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
主办单位:
中国电子质量管理协会
工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-0107
CN:
44-1038/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市五羊新城广兴花园32号一层
邮发代号:
46-39
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
32
总被引数(次)
15176
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