一种减少BIST测试资源的高级寄存器分配算法

• 作者: 卜爱国 李杰 李锐 王超
• 来源期刊: 电路与系统学报
• 学科: 工学
• 关键词: 内建自测试 寄存器分配算法 自可测性 测试
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 91-95
• 页数: 5页
• 分类号: TN74
• 字数: 3692字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-0249.2006.06.018

摘要

在高级综合阶段考虑电路的可测性有许多优点,包括降低硬件开销,减少性能的下降,并达到更高的测试效率等.本文提出了一种基于伪随机可测性方法的寄存器分配算法,来减少内建自测试(BIST)所带来的硬件开销.在基准电路上的实验结果表明:与其它BIST测试综合方法相比较,采用本论文所提的方法进行测试综合对测试资源占用最多可以降低46.8%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李杰	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	48	338	9.0	16.0
2	王超	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	72	473	11.0	18.0
3	李锐	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	22	121	6.0	10.0
4	卜爱国	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	18	105	6.0	9.0