小型高真空多层绝热杜瓦日蒸发率性能研究

• 作者: 李娟 汪荣顺
• 来源期刊: 低温与超导
• 学科: 物理学
• 关键词: 杜瓦 日蒸发率 储存压力 环境温度
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 低温技术
• 页码范围: 404-407
• 页数: 4页
• 分类号: O51
• 字数: 3397字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-7100.2006.06.003

摘要

日蒸发率是评价高真空多层绝热杜瓦保冷性能最重要的技术参数.该文对日蒸发率的影响因素进行了总结,重点介绍了储存压力和环境温度对日蒸发率的影响.以充满率为90%的210L小型杜瓦为例,测试了日蒸发率的变化规律.结果表明,杜瓦的日蒸发率与储存压力成正比,同时日蒸发率的波动随着储存压力的升高而增大,且环境温度对日蒸发率的影响出现延迟.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李娟	上海交通大学制冷与低温工程研究所	100	789	12.0	25.0
2	汪荣顺	上海交通大学制冷与低温工程研究所	156	1729	22.0	30.0