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摘要:
针对多层陶瓷电容器流延瓷膜在迭片压片工艺中发生的起泡现象,利用原子力显微镜作为研究手段,分析对比了自制和进口流延瓷膜的微观结构差异,结果表明,瓷膜起泡的原因为瓷膜浆料中的粘结剂过多所致.根据分析结果提出了调节粘瓷比及调整流延工艺参数的建议,实践效果良好.
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文献信息
篇名 X7R型MLCC流延瓷膜显微结构的AFM研究
来源期刊 分析测试学报 学科 物理学
关键词 多层陶瓷电容器 微观结构 原子力显微镜(AFM) 流延 瓷膜
年,卷(期) 2006,(5) 所属期刊栏目 研究简报
研究方向 页码范围 73-76
页数 4页 分类号 O766.1
字数 2150字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-4957.2006.05.019
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 包生祥 电子科技大学微电子与固体电子学院 52 181 7.0 10.0
2 马丽丽 电子科技大学微电子与固体电子学院 18 62 4.0 7.0
3 彭晶 电子科技大学微电子与固体电子学院 10 42 3.0 6.0
4 戴林杉 电子科技大学微电子与固体电子学院 4 14 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
多层陶瓷电容器
微观结构
原子力显微镜(AFM)
流延
瓷膜
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
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月刊
1004-4957
44-1318/TH
大16开
广州市先烈中路100号
46-104
1982
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