微电阻率成像仪数值模拟与分析

• 作者: 陈爱新
• 来源期刊: 天然气工业
• 关键词: 非均匀介质 电阻率 成像 数值模拟 有限元法 探测深度
• 年，卷（期）: 2006,（12）
• 所属期刊栏目: 地质与勘探
• 页码范围: 83-85
• 页数: 3页
• 分类号: P61
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0976.2006.12.020

摘要

目前,很多油气田已经进入开发后期,勘探开发中常常遇到复杂的地层结构等问题,需要高分辨率的探测仪器,而阵列测井仪器在此方面得到了很好的应用.文章研究了用于复杂地层成像的微电阻率成像仪,在给出了成像仪电极系结构、电阻率测量原理之后,针对该仪器的复杂激励条件和复杂边界条件,采用三维有限元方法,利用双共轭梯度方法求解矩阵方程,进行非均匀介质中微电阻率成像仪的数值模拟.在成像仪所有的结构参数中,几何尺寸发生改变后,有可能影响测量结果的仪器参数包括金属芯棒的长度、绝缘棒的长度、回路电极的长度、极板的长度和宽度.相对而言,金属芯棒、绝缘棒和回路电极的长度对探测深度的影响较小,而极板的长度和宽度影响较大.最后,就这两个仪器结构参数对仪器探测深度的影响等问题进行了分析,并给出了不同几何尺寸条件下成像仪的探测深度结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈爱新	北京航空航天大学电子信息工程学院	13	42	4.0	6.0