VC环境下Smith阻抗图的实现

• 作者: 李恒 秦开宇
• 来源期刊: 中国测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: Smith阻抗图 VC 阻抗 反射系数 驻波比
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 电子测量与自动化控制
• 页码范围: 123-126
• 页数: 4页
• 分类号: TP311.52
• 字数: 3452字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-5124.2006.05.039

摘要

主要介绍用于进行电路阻抗分析、匹配网络设计的Smith阻抗图.Smith阻抗图是分析待测器件反射系数、驻波比和阻抗的重要工具,并且常用于矢量网络分析仪中.重点叙述了Smith阻抗图的基本原理、VC的图像处理和在VC环境下绘制Smith阻抗图的方法,并说明了如何在Smith阻抗图中找到某个特定高频电路的负载阻抗.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	秦开宇		155	829	16.0	21.0
2	李恒		1	3	1.0	1.0