差电流轨迹扫描法的研究

• 作者: 刘赣宁 毛乃虎 汪思满 陈亚强
• 来源期刊: 继电器
• 学科: 工学
• 关键词: 母线保护 抗CT饱和 差电流轨迹扫描法
• 年，卷（期）: 2006,（9）
• 所属期刊栏目: 经验交流
• 页码范围: 73-75
• 页数: 3页
• 分类号: TM77
• 字数: 2597字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-3415.2006.09.019

摘要

针对母线区外故障CT严重饱和时母差容易动作和区外故障转区内故障时存在流出电流而使得差动电流偏小母差不易动作的问题,一般微机母线保护对这两种情况反应不够灵敏.对SG B750数字式母线保护装置中采用的抗CT饱和新原理--差电流轨迹扫描法进行了探讨.该原理抓住故障CT传变特性,快速有效判断出系统所发生的故障类型,判据准确可靠.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	毛乃虎		8	32	4.0	5.0
2	汪思满		5	50	4.0	5.0
3	陈亚强		1	10	1.0	1.0
4	刘赣宁		1	10	1.0	1.0