绝缘层厚度与芯线直径测量偏离方法的比对

• 作者: 傅金波 李坤林 王粤威 胡永乐
• 来源期刊: 现代测量与实验室管理
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘层厚度 芯线直径 比对 方法偏离
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 计量测试
• 页码范围: 9-10
• 页数: 2页
• 分类号: TM934.3
• 字数: 1362字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-8764.2006.02.003

摘要

本文探讨了绝缘层厚度与芯线直径测量装置的选择问题.通过采用不同的测量方法进行比对实验,证明只要用满足标准规定精度的测量仪器去测量,就能达到要求,并不一定要用读数显微镜,标准中方法是可以偏离的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	傅金波		6	6	1.0	2.0
2	胡永乐		11	2	1.0	1.0
3	王粤威		14	25	3.0	5.0
4	李坤林		2	0	0.0	0.0