线阵推扫成像光谱仪几何校正误差的理论分析

• 作者: 何志平 徐卫明 方抗美 王建宇 舒嵘
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 工学
• 关键词: 成像光谱仪 全球定位系统/惯导系统组合定位 共线方程 几何校正
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 页码范围: 109-112
• 页数: 4页
• 分类号: TP751
• 字数: 2892字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9014.2006.02.007

摘要

针对本课题组研制的线阵推扫成像光谱仪和GPS/INS组合定位的集成系统,分析了姿态位置参数、焦距测量和安装角测量引入的几何校正误差,并利用航空试验数据计算出了定量化的误差结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王建宇	中国科学院上海技术物理研究所	162	1466	20.0	27.0
2	何志平	中国科学院上海技术物理研究所	38	354	12.0	17.0
3	舒嵘	中国科学院上海技术物理研究所	146	1383	20.0	29.0
4	方抗美	中国科学院上海技术物理研究所	7	118	6.0	7.0
5	徐卫明	中国科学院上海技术物理研究所	25	256	9.0	15.0