6σ质量水平下的连续合格链长控制图及其控制界的优化

• 作者: 吴德会 杨世元 董华
• 来源期刊: 系统工程理论方法应用
• 学科: 数学
• 关键词: 六西格玛 连续合格链长 控制图 控制限
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 467-470,474
• 页数: 5页
• 分类号: O23
• 字数: 4277字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-2542.2006.05.016

摘要

随着科学技术的发展,生产工序已达到六西格玛(6σ)质量水平,传统的3σ方法不再适应现代在线控制的要求.研究以连续合格链长为控制对象的连续合格链长(CCR)控制图解决该问题,提出一种优化控制限的新方法.该方法主要是通过分析CCR图控制限和两类错误所造成总损失之间的关系,并就此建立基于两类损失最小的控制界优化数学模型,最后给出主要研究过程、最优控制下限的数学表达式及其适用条件.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴德会		33	381	10.0	17.0
2	杨世元		53	456	11.0	18.0
3	董华		10	104	5.0	10.0