一种检测薄膜型InSb-In磁阻元件灵敏度的便捷方法

• 作者: 颜健毅 黄钊洪
• 来源期刊: 传感器世界
• 学科: 工学
• 关键词: 薄膜磁阻元件 InSb-In 灵敏度 检测 均匀磁场 磁感应强度
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 技术与应用
• 页码范围: 25-28
• 页数: 4页
• 分类号: TP212.13
• 字数: 2338字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-883X.2006.02.005

摘要

本文设计了一种检测方法,它提拱精确可控制、且在一定的条件下磁感应强度的大小是稳定的磁场,同时设计了一种低噪声的放大电路对磁阻元件的输出进行测量.利用这个装置,可以精确地测量薄膜式InSb-In磁阻元件的灵敏度.本文检测并讨论了磁阻式Insb-In磁阻元件在一定的磁偏置的条件下,外加磁感应强度B与磁阻元件的电阻值的变化率间的关系,从而提出了一种精确、便捷的薄膜型InSb-In磁阻元件的测量方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄钊洪	华南师范大学信息光电子科技学院	28	175	8.0	12.0
2	颜健毅	华南师范大学信息光电子科技学院量子电子学研究所	1	0	0.0	0.0