北京师范大学外束PIXE分析装置的建立

• 作者: 王广甫 鲁永芳
• 来源期刊: 北京师范大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 质子 外束质子激发X荧光 RBS GBW07306标样
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 页码范围: 588-591
• 页数: 4页
• 分类号: TP3
• 字数: 3558字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0476-0301.2006.06.012

摘要

北京师范大学串列实验室建立了外束质子激发x荧光(PIXE)分析装置.外束引出窗口采用7.5 μm厚Kapton膜.为了保护加速器系统,在外束管道中安装自己设计制作的快速真空保护阀.考虑到绝缘样品不能直接测量束流积分,在RBS靶室放置175 nm金箔,并建立了金RBS峰面积和束流积分之间的关系,这样在采集外束PIXE能谱的同时,通过记录金箔RBS信号就可获得束流积分.对GBW07306水系沉积物有证标准物质进行了外束PIXE测量及定性分析,并与真空PIXE结果进行了比较.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王广甫	北京师范大学分析测试中心	45	220	7.0	13.0
2	鲁永芳	北京师范大学低能核物理研究所	8	27	3.0	5.0