X射线衍射法测定高岭石合成的NaY分子筛物相组成、结晶度、晶胞参数及硅铝比研究

• 作者: 程群
• 来源期刊: 冶金标准化与质量
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线衍射仪 NaY分子筛 物相组成 结晶度 晶胞参数 硅铝比
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 分析测试
• 页码范围: 8-10
• 页数: 3页
• 分类号: O43
• 字数: 1749字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0514.2006.02.003

摘要

由高岭石合成的NaY分子筛经如下处理:将试样放入玛瑙研钵中充分研细,经120℃,1h烘干,然后置于氯化钙过饱和水溶液气氛中(室温20～30℃)吸水16～24h;将处理后试样照X射线衍射仪(XRD)进行测定,分析其物相组成、结晶度、晶胞参数及硅铝比.该方法测得的NaY分子筛各参数,比通常采用的化学分析方法省时、简便、重复性好,并为高岭石合成NaY分子筛提供了有效的理论依据,从而可以及时监控合成NaY分子筛的生产过程,降低了NaY分子筛生产成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程群		2	26	2.0	2.0