膜纸复合储能电容器的直流局部放电信号分析方法

• 作者: 于成龙 冉汉政 刘华昌 吴广宁 张血琴 舒雯
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 直流 局部放电 信号分析 老化
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 第十届工程电介质会议专题二
• 页码范围: 46-49
• 页数: 4页
• 分类号: TM835
• 字数: 2342字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-6753.2006.04.010

摘要

检测系统提取直流局部放电(DCPD)信号后,须进一步处理,从而准确判断缺陷状况.描述直流局部放电信号的基本参数是放电量q及放电发生时刻t,通过对膜纸复合储能电容器进行直流局部放电检测,比较了含有不同人工缺陷的电容器的基于△t方法的二维统计分布图及指纹谱图;研究了不同寿命阶段储能电容器的q-n曲线.试验结果表明,基于△t方法的特征谱图能用于区分电容器缺陷类型;不同电容器在老化阶段的q-n曲线变化规律并不一致,说明该曲线难以表征电容器的老化进程.最后,提出采用△t方法来表征电容器绝缘的老化进程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘华昌	中国工程物理研究院电子工程研究所	16	75	6.0	8.0
2	吴广宁	西南交通大学电气学院	458	6939	39.0	56.0
3	张血琴	西南交通大学电气学院	49	680	12.0	26.0
4	冉汉政	西南交通大学电气学院	5	135	5.0	5.0
5	于成龙	中国工程物理研究院电子工程研究所	14	110	6.0	10.0
6	舒雯	西南交通大学电气学院	5	403	4.0	5.0