La0.7Sr0.3MnO3外延膜厚度引起的电阻率变化

• 作者: 孟影 金绍维
• 来源期刊: 安徽大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 外延膜 晶格失配 应变驰豫 缺陷密度
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 页码范围: 58-61
• 页数: 4页
• 分类号: O513
• 字数: 3185字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-2162.2006.03.015

摘要

不同厚度的La0.7Sr0.3MnO3(LSMO)外延薄膜被沉积到立方相的LaAlO3(001)单晶衬底上, XRD测试结果显示,LSMO外延膜的结构是单相的,具有与衬底相同的晶格取向; 随着膜厚的增加,LSMO外延膜的晶格经历应变到驰豫的变化.电阻测量显示,应变驰豫的薄膜(较厚的薄膜)有较大的电阻率,这与该膜中缺陷浓度增加有关.此外,也对生长在不同单晶衬底上的LSMO外延膜(厚度相同)的结构和电阻进行了对比研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金绍维	安徽大学物理与材料科学学院	25	43	4.0	5.0
2	孟影	安徽大学物理与材料科学学院	12	32	4.0	5.0