锡基氧化物薄膜的制备与电化学性能

• 作者: 傅正文 文九巴 李谦 秦启宗 赵胜利
• 来源期刊: 材料研究学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 无机非金属材料 锡基氧化物薄膜 真空蒸发 热氧化
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 页码范围: 262-266
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 字数: 3008字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-3093.2006.03.009

摘要

制备了SnOx(1≤x≤2)薄膜,研究了氧化温度对薄膜形貌、结构及性质的影响.结果表明,SnOx薄膜表面光滑、厚度均匀且致密,由纳米尺寸、分布均匀的晶形颗粒组成,颗粒粒径随着氧化温度的升高而逐渐变大;SnOx薄膜电极初始可逆容量随着氧化温度的升高而降低,首次容量损失则随氧化温度的升高而增大.在温度为600℃氧化2 h,SnOx薄膜的可再充放电性能最好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	文九巴	河南科技大学材料学院	221	1779	19.0	31.0
2	秦启宗	复旦大学化学系	29	260	10.0	15.0
3	李谦	河南科技大学材料学院	64	263	8.0	13.0
4	赵胜利	河南科技大学材料学院	60	307	9.0	13.0
5	傅正文	复旦大学化学系	23	249	10.0	15.0