可编程逻辑器件亚稳态的分析与测试

• 作者: 华熹曦 李惠军 许新新 赵雷 郭琦 霍林
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 亚稳态 平均无故障时间 测试 可编程逻辑器件
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 理论与研究
• 页码范围: 3-6
• 页数: 4页
• 分类号: TM930
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2006.02.002

摘要

随着可编程逻辑器件(PLD)的功能日益强大,工作频率不断提高.由于片上多时钟域系统的集成,使得异步信号数量增加,由此带来了所谓的亚稳态(metastab]e)问题.亚稳态问题对器件的可靠性将造成严重影响.基于PLD器件亚稳态的成因与机理,本文提出一种简便、可靠的PLD器件亚稳态性能的测试方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李惠军	山东大学信息科学与工程学院	51	103	5.0	7.0
2	郭琦	山东大学信息科学与工程学院	14	80	5.0	8.0
3	赵雷	山东大学信息科学与工程学院	7	12	2.0	3.0
4	霍林	山东大学信息科学与工程学院	7	16	3.0	3.0
5	许新新	山东大学信息科学与工程学院	11	20	3.0	4.0
6	华熹曦	山东大学信息科学与工程学院	6	10	2.0	3.0