特性阻抗的模拟设计与测试

• 作者: 何思军
• 来源期刊: 电子电路与贴装
• 学科: 工学
• 关键词: 阻抗试样 TDR迹线 探针 测试区域 测试 边界
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 页码范围: 61-65
• 页数: 5页
• 分类号: TN41

摘要

本文主要通过对不同尺寸阻抗试样及不同大小阻抗试样的阻抗测试TDR迹线的分析，对特性阻抗模拟设计试样的尺寸及阻抗大小与Polar CITS测试系统的测试区域的选取之间的关系进行阐述，以便为特性阻抗模拟试样的设计与测试提供参考。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何思军		3	0	0.0	0.0