弹内存储测试系统的应用与研究

• 作者: 侯卓 张文栋 熊继军
• 来源期刊: 弹箭与制导学报
• 关键词: 存储测试 低功耗 可编程逻辑器件(CPLD)
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 弹药技术(2)
• 页码范围: 219-220
• 页数: 2页
• 分类号: TJ410.6
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-9728.2006.02.073

摘要

利用CPLD研究设计了对于弹丸过载参数测试系统 .本系统主要采用CPLD (可编程逻辑器件)CoolRunner XPLA3(BGA封装)和AD7470.详细介绍了系统的工作原理,测试电路的设计与仿真,以及低功耗的实现方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张文栋		167	1172	16.0	26.0
2	熊继军		111	702	13.0	19.0
3	侯卓		14	59	5.0	7.0