X射线TICT中射束硬化拟合校正研究

• 作者: 乔闹生 周日峰 彭光含 杨学恒 蔡新华 韩忠
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 计算机断层扫描成像技术 射束硬化 拟合校正 射束和
• 年，卷（期）: 2006,（11）
• 所属期刊栏目: 图像与信号处理
• 页码范围: 137-141
• 页数: 5页
• 分类号: TP391
• 字数: 2259字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2006.11.031

摘要

X射线TICT中,由于射线硬化现象使图像重建时出现伪影.文中对X射线硬化现象进行了分析,探讨了在均匀物质中,X射线射束和与透射厚度的关系,并根据Beer定律和X射线与物质作用的特点,通过获取X射线射束和数据,首先拟合出射束和与透射厚度的关系式,然后得出X射线射束和校正为单色射线射束和的等效厚度与透射厚度的关系及其等效方法,最终得出X射线等效单色射线的衰减系数的拟合值,再对此衰减系数拟合值进行卷积反投影重构,即可有效消除X射线射束硬化的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨学恒	重庆大学数理学院	39	294	9.0	15.0
2	蔡新华	湖南文理学院物电系	25	140	7.0	10.0
3	彭光含	湖南文理学院物电系	49	241	8.0	12.0
7	乔闹生	湖南文理学院物电系	60	352	10.0	16.0
8	韩忠	重庆大学数理学院	22	98	6.0	8.0