精心耕耘廿余载摘得桂冠展风采--访光学工程博士、光学微纳测量仪器专家韩森

• 作者: 王文 雨林
• 来源期刊: 纳米科技
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 高端专访
• 页码范围: 1-2
• 页数: 2页
• 语种: 中文

摘要

留美博士韩森以其研究的高分辨率通过透射介质进行表面轮廓纳米级测试的方法于2004年申请美国专利,又因其新产品TTM干涉物镜系列再度获得美国2005年度被称为发明奥斯卡奖的第四十三届研发100奖(R&D 100 Award).本刊因此向韩森博士表示热烈祝贺,并进行了专访: