光学测温技术中的物理原理

• 作者: 彭利军
• 来源期刊: 物理测试
• 学科: 工学
• 关键词: 光学 测温 非接触 红外 辐射
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 46-48
• 页数: 3页
• 分类号: TH811.2
• 字数: 2883字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0777.2006.05.014

摘要

与其它测温技术相比,光学测温技术具有非接触、实时和无损等优点,在国防、军事和工业生产中具有极其重要的作用.文章介绍了常见的4种技术--激光光谱测温技术、全息干涉测温技术、基于CCD的三基色测温技术和红外辐射测温技术,其中又以红外辐射测温技术应用最为广泛.简单地介绍了前3种技术,而对红外测温技术的原理、方法和具体应用则进行了详细的论述.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭利军	华中科技大学光电科学与工程学院	4	65	3.0	4.0