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摘要:
采用模拟环境腐蚀实验、电化学腐蚀实验,结合SEM等手段,研究了内脊型NiTiNb形状记忆合金(SMA)管接头在典型环境中的安全性和耐蚀性能.结果表明,在外加应力、腐蚀介质、航空油压以及高温烘烤等模拟环境因素的作用下,NiTiNb合金管接头系统能安全可靠的工作,合金表面完整连续,耐蚀性能优良.电化学腐蚀测试表明该合金在NaCl溶液中具有良好的耐蚀性能,90℃时点蚀电位约为240 mV,腐蚀电流密度只有约30 μA/cm2.随着NaCl溶液温度的降低,合金的腐蚀电流密度变小.腐蚀电位正移,合金的耐蚀性提高.NiTiNb合金在NaCl溶液中的电化学阻抗谱(EIS)由单一的容抗弧构成,这与表面生成了一层与基体紧密结合的致密TiO2保护膜有关,它对提高合金在溶液中的耐蚀性能有利.
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内容分析
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文献信息
篇名 NiTiNb形状记忆合金管接头的耐蚀性能
来源期刊 金属学报 学科 工学
关键词 NiTiNb 形状记忆合金(SMA) 腐蚀 电化学阻抗谱(EIS)
年,卷(期) 2006,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 99-102
页数 4页 分类号 TG174
字数 2982字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0412-1961.2006.01.018
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李松梅 北京航空航天大学材料科学与工程学院 130 1251 19.0 26.0
2 刘建华 北京航空航天大学材料科学与工程学院 173 1628 21.0 28.0
3 陶斌武 北京航空航天大学材料科学与工程学院 7 137 7.0 7.0
4 李佳峰 北京航空航天大学材料科学与工程学院 5 43 4.0 5.0
5 史俊秀 北京航空航天大学材料科学与工程学院 1 13 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
NiTiNb
形状记忆合金(SMA)
腐蚀
电化学阻抗谱(EIS)
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
金属学报
月刊
0412-1961
21-1139/TG
大16开
沈阳文化路72号
2-361
1956
chi
出版文献量(篇)
4859
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9
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