YbF3和ZnS薄膜的折射率和厚度的分光光度法测定

• 作者: 乔明霞 张彬 黄伟
• 来源期刊: 激光杂志
• 学科: 物理学
• 关键词: 光学薄膜 折射率 透射率 非线性单纯形法 分光光度法
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 实验技术与装置
• 页码范围: 24-25
• 页数: 2页
• 分类号: O484.5
• 字数: 1229字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0253-2743.2006.01.013

摘要

本文给出了一种简单而准确地确定光学薄膜折射率和厚度的方法.利用分光光度计分别测量光学薄膜样品以及基底透射率曲线,采用柯西(Cauchy)色散模型以及非线性单纯形优化法对透射率测量曲线进行拟合,从而确定薄膜的光学常数和厚度.采用电子束热蒸发和电阻热蒸发方法,分别在CaF2基底上镀制ZnS薄膜和在Al2O3基底上镀制YbF3薄膜,通过测量其在400m-2600nm波段内的透射率曲线,计算出ZnS和YbF3薄膜材料的折射率色散曲线以及膜层厚度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张彬	四川大学电子信息学院	219	1042	16.0	21.0
2	乔明霞	四川大学电子信息学院	1	21	1.0	1.0