IC测试原理-芯片测试原理

• 作者: Anthony K. Stevens Gordon W. Roberts Mark Burns 许伟达
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2006,（7）
• 所属期刊栏目: 封装测试技术
• 页码范围: 512-514,519
• 页数: 4页
• 分类号: TN3
• 字数: 3609字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2006.07.010

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	Mark Burns		1	0	0.0	0.0
2	Gordon W. Roberts		1	0	0.0	0.0
3	Anthony K. Stevens		1	0	0.0	0.0
4	许伟达		7	2	1.0	1.0